熒光光譜測(cè)試儀又稱分光儀,廣泛為認(rèn)知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長(zhǎng)位置強(qiáng)度的裝置。它由一個(gè)入射狹縫,一個(gè)色散系統(tǒng),一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域,并在選定的波長(zhǎng)上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。
標(biāo)準(zhǔn)配置:
1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi
2. X射線光管模塊
3. 高低壓電源模塊
4. 多道分析模塊
5. 信噪比增強(qiáng)模塊
6. 集成IPAD觸摸屏
7. RoHS鹵素軟件系統(tǒng)
一臺(tái)典型的光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分:
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。
2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄?。該?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上,如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵,使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束,使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像,其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。
5. 探測(cè)器陣列:放置于焦平面,用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。
熒光光譜測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
測(cè)試范圍 | RoHS, 鹵素(硫S-鈾U之間的元素) |
可測(cè)試樣品的種類 | 固體,液體,粉末 |
檢出限 | ≤2ppm;精度:±0.05% |
測(cè)試時(shí)間 | 30-300s(可以任意調(diào)節(jié)) |
攝像定位系統(tǒng) | 800萬(wàn)真像素高清定位系統(tǒng) |
X射線光管使用壽命 | >20000小時(shí) |
探測(cè)器 | Amptek公司原裝電致冷Si-PIN探測(cè)器; 分辨率 145ev±5ev |
高壓電源 | 0-50kev,0-2mA 50w |
準(zhǔn)直濾光系統(tǒng) | X射線光斑大小直徑:φ1mm,φ3mm,φ5mm; 9種復(fù)合濾光系統(tǒng) |
工作環(huán)境溫/濕度 | 溫度15-30℃ 濕度 ≤75%(不結(jié)露) |
輸入電源 | AC220V±15% 50Hz |
額定功率 | 150W 重量 33kg |
儀器尺寸 | 670*400*330mm |
測(cè)試樣品腔尺寸 | 200*260*80mm |
專業(yè)RoHS指令有害元素和鹵素快速,無(wú)損檢測(cè);一體機(jī)設(shè)計(jì),內(nèi)置工業(yè)計(jì)算機(jī)和IPAD觸摸屏,無(wú)需另配電腦和顯示器。
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